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超声波测厚仪

UM-1超声波测厚仪

文字:[大][中][小] 2015-7-15  浏览次数:387

 

0.1mm分辨率,128×64点阵图形液晶屏,可存储500个厚度值,高/低限报警,最小值捕获,两点校准,V路径校正,毫米/英寸,EL背光,中/英文界面。

                    UM-1 技术数据


工作原理
脉冲~回波方式
测量范围
0.8
~300mm
取决于所用探头、所测材料、表面状况
单位和显示分辨率
毫米-0.1
英寸-0.01
探头零点校准
一点校准(用于常规的厚度测量)
两点校准(测量曲面壁厚或特殊应用时,可显著提高测量精度)
V路径修正
自动V声程修正,补偿双晶探头的非线性度
示值误差
±0.1mm  (10mm以下)
±0.5% H +0.01 (10mm以上)
注:H为被测物厚度
重复性
±0.1mm
显示屏
128×64点阵液晶屏(42×57毫米),具有EL背光,可调节对比度,厚度值数字高度可达13.75毫米
测量刷新频率
常规测量时4Hz,最小值扫查时25Hz
材料声速范围
1000~9999m/s,0.0394~0.3937in/us
数据存储
划分5个数组,可存储500个厚度值
工作语言
中文、英文
电源
两节1.5VAA电池,当电池电量不足时,有低电压提示
操作时间
两节5号电池,使用时间可达200小时

                   
                                                                     
 
        
            
            自动关机 
              5分钟无操作后自动关机
            工作温度
              -10
℃~+50℃,有特殊要求可达-20℃
            尺寸 
              149mm×73mm×32mm (H×W×D)
            重量 
              含电池200g
            标准配置
              UM-1测厚仪
              标配探头
              仪器箱
              两节碱性电池
              耦合剂
              操作手册
              合格证
              装箱单
            选配件 
              橡胶外套;众多可供选择的探头;校准用阶梯试块;
              耦合剂及高温耦合剂
 

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